【行知讲坛】几类具有随机效应的随机过程退化模型的统计推断

4月12日下午，行知讲坛第186讲在横江校区教学楼一楼报告厅举行。数学与统计学院王小飞博士作题为“几类具有随机效应的随机过程退化模型的统计推断”主题报告，近200名师生参加报告会。报告会由数学与统计学院院长汪宏健主持。

王小飞博士基于带随机效应的维纳过程, 伽玛过程和逆高斯过程对退化数据进行建模, 研究小样本下产品相关可靠性指标的统计推断问题.通过构建广义枢轴量,得到了产品感兴趣可靠性指标的置信区间。通过模拟研究,证明的所建的广义置信区间优于基于大样本办法的Wald置信区间或者bootstrap置信区间.

王小飞，博士，数学与统计学院教师。2017年9月至2021年1月在浙江工商大学统计与数学学院攻读博士学位。主要从事可靠性与质量管理的相关研究工作。主持安徽高校自然科学研究重点项目、安徽省高校优秀拔尖人才培育项目、黄山学院国家基金培育项目等项目若干项。参与国家自然科学基金项目两项。已在Reliability Engineering and System Safety（RESS）、Quality and Reliability Engineering International（QREI）、Applied Mathematical Modelling（AMM）等期刊上发表论文多篇。其中《Degradation Data Analysis Based on Gamma Process with Random Effects.》被Top期刊《European Journal of Operational Research》接收发表。

（撰稿：数学与统计学院 吴巧燕 ；摄影：数学与统计学院  吴巧燕；审核：数学与统计学院 汪宏健）